SiPM 光子検出効率 (PDE) 計算ツール

SiPM(シリコン光電子増倍管)の量子効率(QE)、アバランシェトリガー確率、幾何学的充填率(Fill Factor)、過電圧(Vov)から光子検出効率(PDE)を簡単に計算シミュレーション。

901.2K 利用回数 更新日 · 2026-05-11 ブラウザ内で処理 · アップロードなし
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SiPM 光子検出効率 (PDE) 計算ツールは、シリコン光電子増倍管(SiPM: Silicon Photomultiplier)の性能指標である光子検出効率(PDE: Photon Detection Efficiency)を、量子効率 (QE)、アバランシェ発生確率 (Ptrigger)、幾何学的充填率 (Fill Factor) の3つの主要パラメータから瞬時に計算するシミュレータです。

SiPM 光子検出効率 (PDE) 計算ツールの使い方

  1. 入力形式の選択 — パーセント表記(例: 40%)または小数表記(0〜1)を選択します。
  2. QE、Ptrigger、Fill Factor の入力 — 必須となる3つのパラメータの値を入力します。
  3. オプションで Vbias と Vbreakdown を入力 — バイアス電圧とブレークダウン電圧を入力すると、過電圧 Vov (= Vbias − Vbreakdown) も合せて計算されます。
  4. PDE計算結果の確認 — パーセントおよび小数値での計算結果と、各項目の寄与度が一覧表示されます。

計算式と理論背景 — SiPM 光子検出効率 (PDE) 計算

PDE = QE × Ptrigger × Fill Factor
Vov = Vbias − Vbreakdown
  • QE (Quantum Efficiency / 量子効率): 入射光子がシリコン内で電子-正孔対を生成する確率(波長依存)。
  • Ptrigger (Avalanche Triggering Probability / アバランシェ発生確率): 生成されたキャリアがアバランシェ増幅を誘発する確率(過電圧 Vov に依存)。
  • Fill Factor (幾何学的充填率): SiPMの受光面積全体に占めるマイクロセルの有効感光領域の割合。

SiPM 光子検出効率計算の主な活用シーン

  • 素粒子・原子核物理学実験 — シンチレータ読み出し系における受光光子数や光量の見積もり。
  • LiDARおよびToF(飛行時間計測)設計 — 単一光子測定(Photon Counting)用SiPM素子の選定と性能比較。
  • 医療用画像診断装置 — PET(陽電子放出断層撮影)やCT装置向け微弱光センサの評価。
  • 研究開発・実験測定 — データシート記載の理論値と実測データの検証・パラメータ比較。

SiPM 光子検出効率 (PDE) 計算ツールについてのよくある質問

SiPMにおけるPDE(光子検出効率)とは何ですか?

PDE (Photon Detection Efficiency) は、入射した光子が検出可能なガイガー放電(アバランシェ増幅)を引き起こす確率です。量子効率 (QE)、アバランシェ発生確率 (Ptrigger)、マイクロセルの幾何学的充填率 (Fill Factor) の積として計算されます。

なぜPDEは過電圧(Vov)に依存するのですか?

過電圧 Vov (= Vbias − Vbreakdown) が高くなると、アバランシェ発生確率 Ptrigger が上昇してPDEが高くなります。ただし、ダークカウント率やクロストーク、アフターパルスも増加するため、最適な動作点の選定が重要です。

充填率(Fill Factor)と受光面積の違いは何ですか?

幾何学的充填率 (Fill Factor) は、SiPM全体の面積に対する各マイクロセルの有効感光領域の割合です。セル間の不感領域(デッドスペース)の影響を評価する指標となります。

入力したデータはサーバーに送信・保存されますか?

いいえ。すべての計算処理はお使いのブラウザ内(ローカル)で完了するため、外部サーバーにデータが送信されることは一切ありません。